Название электронного компонента: SNJ54BCT8244AFK Описание SNJ54BCT8244AFK: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: -55°C | Max: 125°C Корпус и выводы: FK (Pins: 28) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SNJ54BCT8244AFK datasheet: 293Kb Скачать SNJ54BCT8244AFK datasheet: SNJ54BCT8244AFK.PDF |