Datasheets search


   Поиск по названию    Поиск по описанию

  




Поиск документации /

SNJ54BCT8373AFK datasheet



datasheet for SNJ54BCT8373AFK by Texas Instruments   Название электронного компонента: SNJ54BCT8373AFK

Описание SNJ54BCT8373AFK: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

Производитель: Texas Instruments

Темп. диапазон: Min: -55°C | Max: 125°C

Корпус и выводы: FK (Pins: 28)

Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader)

Размер SNJ54BCT8373AFK datasheet: 294Kb

Скачать SNJ54BCT8373AFK datasheet: SNJ54BCT8373AFK.PDF


 © Datasheets.ru 2005-2024