|
 |
Название электронного компонента: SN74BCT8373ADW Описание SN74BCT8373ADW: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE LATCHES Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: 0°C | Max: 70°C Корпус и выводы: DW (Pins: 24) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SN74BCT8373ADW datasheet: 294Kb Скачать SN74BCT8373ADW datasheet: SN74BCT8373ADW.PDF |