|
 |
Название электронного компонента: SN74BCT8374ADW Описание SN74BCT8374ADW: SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: 0°C | Max: 70°C Корпус и выводы: DW (Pins: 24) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SN74BCT8374ADW datasheet: 294Kb Скачать SN74BCT8374ADW datasheet: SN74BCT8374ADW.PDF |