|
 |
Название электронного компонента: SN74LVTH182512DGGR Описание SN74LVTH182512DGGR: 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: -40°C | Max: 85°C Корпус и выводы: DGG (Pins: 64) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SN74LVTH182512DGGR datasheet: 518Kb Скачать SN74LVTH182512DGGR datasheet: SN74LVTH182512DGGR.PDF |