Название электронного компонента: SN74LVTH18646APM Описание SN74LVTH18646APM: 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: -40°C | Max: 85°C Корпус и выводы: PM (Pins: 64) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SN74LVTH18646APM datasheet: 551Kb Скачать SN74LVTH18646APM datasheet: SN74LVTH18646APM.PDF |