|
 |
Название электронного компонента: SNJ54BCT8374AFK Описание SNJ54BCT8374AFK: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: -55°C | Max: 125°C Корпус и выводы: FK (Pins: 28) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SNJ54BCT8374AFK datasheet: 294Kb Скачать SNJ54BCT8374AFK datasheet: SNJ54BCT8374AFK.PDF |