Название электронного компонента: SN74BCT8245ADWR Описание SN74BCT8245ADWR: IEEE STD 1149.1 (JTAG) BOUNDARY-SCAN TEST DEVICE WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS Производитель: Texas Instruments Темп. диапазон: Min: 0°C | Max: 70°C Корпус и выводы: DW (Pins: 24) Формат файла: PDF (Requires Adobe Acrobat Reader) Размер SN74BCT8245ADWR datasheet: 309Kb Скачать SN74BCT8245ADWR datasheet: SN74BCT8245ADWR.PDF |